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                漆膜测厚仪的影响因素

                 发布时间:2021-12-14 点击量:312
                基体金属磁性质
                磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用快3和试件基体金属具有相同性质的标准快3片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
                基体金属电性质
                基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率和其材料成分及热处理方法有关。使用和试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
                基体金属厚度
                每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大快3于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。
                边缘效应
                仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可快3靠的。
                曲率
                试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
                试件的变形
                测头会使软快3覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。
                表面粗糙度
                基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每快3次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属快3粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试快3件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖快3层后,再校对仪器的零点。
                磁场
                周围各种电快3气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。
                附着物质
                仪器对那些妨碍测头和覆盖层表面紧密接触的附着物质敏快3感,因此,必须清快3除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
                测头压力
                测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读快3数,因此,要保持压力恒定。   
                测头的取向
                测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头和试样表快3面保持垂直。